使用卡尺測(cè)量工件時(shí)，一定要保定卡尺精度完好，不然測(cè)出來(lái)的數(shù)值會(huì)有問(wèn)題，怎么才能判斷一把卡尺的好壞呢？從以下幾點(diǎn)來(lái)判斷：
a外觀：無(wú)銹斑、碰傷、毛刺,邊角倒鈍（手感無(wú)刺激）,外形整齊,外觀清潔；無(wú)剩磁（量爪端不吸引小鐵件如大頭針、別針）；
b量面：外量面（測(cè)量軸直徑用）粗糙度Ra0.2（其它量面Ra0.4）,邊緣無(wú)毛刺（手指摸）,合攏不透光；量爪前瑞平齊,無(wú)碰傷彎勾（目力觀察）；
c顯示：?jiǎn)?dòng)電源,數(shù)字顯示清楚完整（不缺筆劃）,各按鍵功能正常（按使用說(shuō)明）；
d側(cè)向間隙——尺框槽與尺身寬度方向的配合間隙,此間隙越小越好（應(yīng)接近零）。此項(xiàng)要求比較重要。檢驗(yàn)時(shí)面對(duì)顯示屏并使尺頭朝上,使兩外量面張開(kāi)約 20mm,右手抓尺身頭部,左手抓尺框外量爪并用力左右推拉,靠近耳聽(tīng)?wèi)?yīng)無(wú)撞擊聲；或目力觀察尺框槽與尺身基面（靠近外量爪的尺身窄側(cè)面）接觸處,應(yīng)無(wú)目 力所見(jiàn)之間隙變化；
e尺身平行度——尺身寬度的不一致性,應(yīng)控制在0.005mm以下。檢驗(yàn)時(shí)分別在尺身兩端和中間三個(gè)位置上
,一手握尺身并用拇指不斷往復(fù)推拉尺框,同時(shí)另一手輕輕旋入緊固螺釘（但不鎖緊）,直到接近鎖緊而尺框又剛好能移動(dòng),然后全程移動(dòng)尺框仍能各處通過(guò)。否則,說(shuō)明尺身平行度不佳,不能保證側(cè)向間隙均勻一致,會(huì)影響某些位置測(cè)量準(zhǔn)確性；
f基面接觸——尺身基面與尺框槽窄面接觸的條形痕跡寬度（應(yīng)不小于1/2尺身厚度,它影響使用壽命）。檢驗(yàn)時(shí),反復(fù)快速移動(dòng)尺框數(shù)次（移動(dòng)時(shí)用力將尺框壓向尺身基面）,觀察尺身基面上的條形接觸痕跡寬度。
g移動(dòng)：全程移動(dòng)尺框應(yīng)輕松（移動(dòng)力約2-3牛頓——1牛頓約等于0.1千克力）、平滑（無(wú)卡滯）。移動(dòng)力輕,測(cè)量時(shí)易于掌握測(cè)力大小,從而減小因測(cè)力變化引起的誤差；
h正向間隙——尺框槽與尺身厚度方向的配合間隙,越小越好。面對(duì)顯示屏一手握尺身,另一手捏住尺框外量爪前后搖動(dòng),感覺(jué)間隙較小為好；
量面錯(cuò)位：使兩外量面接觸,手指模接觸處兩邊,感覺(jué)錯(cuò)位越小越好（極限0.1mm）；
j推零位：一手推尺框使兩外量面接觸并保持一定推力（等于測(cè)量時(shí)推力）,同時(shí)用另一手清零（此為正確清零方式）,然后再增加推力（比測(cè)量時(shí)推力略大）,觀察零位變化,只許出現(xiàn)負(fù)號(hào),不應(yīng)有數(shù)字改變。
k示值誤差——顯示值與被測(cè)量真值之差。分為以下三項(xiàng)
細(xì)分誤差——電子組件本身的誤差。檢驗(yàn)方法：在外量面內(nèi)側(cè)（阿貝誤差小）用一組間隔0.5mm的量塊,例如1、1.5、2、2.5、3、3.5、4、4.5、5mm共九個(gè)量塊,測(cè)量數(shù)顯卡尺示值誤差,其Z大誤差可看做為細(xì)分誤差,一般不應(yīng)超過(guò)0.01mm。
可供專(zhuān)用于檢驗(yàn)細(xì)分誤差的階梯塊,共有九個(gè)階梯,間隔0.5mm。
外測(cè)量示值誤差：用步距規(guī)或尺寸分布適宜的一組量塊（不少于5件）在外量面內(nèi)側(cè)（阿貝誤差小,在量面外側(cè)檢外量面平行度）檢驗(yàn)其外測(cè)量示值誤差,其Z大誤 差應(yīng)不超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限（與測(cè)量范圍有關(guān),0-100mm為±0.02mm； ＞100-300mm為±0.03mm）；
內(nèi)測(cè)量示值誤差：用小環(huán)規(guī)（直徑3-4mm）和步距規(guī)相結(jié)合檢驗(yàn)內(nèi)測(cè)量示值誤差,這是國(guó)際通用檢驗(yàn)方法。但我國(guó)多數(shù)卡尺（數(shù)顯卡尺、帶表卡尺、或游標(biāo)卡 尺）生產(chǎn)廠家和用戶(hù),并未認(rèn)真檢驗(yàn)內(nèi)測(cè)量示值誤差,只檢驗(yàn)10mm處內(nèi)量爪尺寸或這一點(diǎn)的示值誤差,以至多數(shù)卡尺內(nèi)測(cè)量示值誤差較大（與國(guó)外卡尺相 比,差距較大）。
